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从RE到RSE:聊聊无线产品EMC认证测试中的辐射项(上)
无线产品的EMC认证测试里,有两个与辐射发射有关的项目:Radiated Emission(RE)和Radiated Spurious Emission(RSE)。
RE和RSE,名字上仅一字之差,测试结果看起来也仿佛孪生哥俩。下面有两张测试结果的截图,您能分辨出哪张属于RE测试,哪张是RSE吗?
对于熟悉传统ITE设备的EMC工程师来说,很少有机会接触RSE;对于搞射频收发链路的同志们来说,辐射杂散好理解,而RE相对陌生一些——同饮一江水,相望两不知。那么,无线产品为什么会有两个辐射发射测试项?它们的区别和联系又在哪里?
关于这个话题,我们不妨先从RE测试的历史聊起。
RE测试的演进过程中,频率是很关键的一个因素。
20世纪70年代,当工程师们开始为消费类电子产品制定辐射发射测量标准的时候,首先考虑到了如下特点:
· 这些产品的工作频率大概在几十兆到百兆赫兹级别,产生的电磁骚扰绝大部分能量都分布在几百兆赫兹以下
· 大多数产品都放置在接近地面的高度上使用,受干扰的设备接收到的噪声信号来自直射波和空间反射波的叠加
· 这些产品对外的电磁骚扰属于无意发射,充当天线的都是“临时工”——例如线缆、“浮地”的金属部件、形成环路的走线等等
工作频率低于108MHz的设备,人们把它的辐射发射简化为这样一种情况:从被测设备(EUT)辐射发出的骚扰信号,在周围空间中的反射是受控的,有且仅有地面这一个反射面(半自由空间),除此之外,不存在任何其他反射;测量天线处接收到的是直达波和地面反射波的矢量和。这就是辐射发射测量的双线模型。测量的频率上限定为1GHz。
(辐射发射测量的双线模型)
从事EMC基础标准制定的组织有很多,其中最著名的是欧洲的CISPR(国际无线电干扰特别委员会)和美国的ANSI(美国国家标准化协会)。围绕双线模型的共识,两个组织陆续定义了测试场地、测试天线、测量仪器、测试方法和限值,细节上有所差异。
开阔试验场
作为半自由空间模型的一种逼近,开阔试验场(Open Area Test Site,OATS)应运而生。先来看两张照片。
(远景)
(中景)
这是位于北京市昌平十三陵镇的中国计量科学研究院计量级OATS(特别感谢孟东林博士提供的高清照片)。
由于开阔场的选址要求环境噪声绝对干净(现代计量级OATS可以通过矢网锁相环技术消除背景噪声的影响),所以只能修建在人迹罕至、远离市中心的郊区。开阔场的四周是开放空间,不能存在任何反射。长方形的白色区域是铺设的金属地面,四周还铺设有三角形金属栅格作为由金属板到大地的阻抗渐变,从而逼近理想的镜面反射。
随着民用无线通信业务的兴起、工业无线电噪声的日益严重,开阔场的选址越来越困难。所以,到了20世纪80年代,替代OATS的测试场地开始出现。这就是半电波暗室(Semi-Anechoic Chamber,SAC)。
半电波暗室
半电波暗室的主框架是个金属屏蔽室。既然是OATS的替代,地面依然是电连续的金属反射地面,而为了搞掉四壁和天花板对电波的反射,这五个面上贴装了吸波材料对到达的电磁波进行吸收。地面不铺吸波材料——这也是所谓“半”的来源。
测试场地建好以后,怎么验收性能?这涉及到场地性能检验方法。ANSI和CISPR于90年代初相继制定了辐射发射测试场地的NSA(归一化场地衰减)检验方法。国内,北方交通大学张林昌教授最早引入这一理论,并研究拓展了国外标准中未定义的NSA理论数据,是国内电波暗室理论研究领域名副其实的开拓者。
上面这张照片拍摄于2000年左右,是当时的北方交通大学EMC实验室半电波暗室。照片中看起来有些陈旧的SAC,却是当时国内乃至国际EMC研究领域最领先的前沿阵地。
测量仪器
早期噪声测量,采用的仪器是超外差式选频电压表,原理类似于收音机。后来在选频电压表的基础上出现了测量接收机(EMI Receiver)。
接收机里有一个关键部件叫做检波器。检波器的电路构成不同,接收机测到的噪声也不相同。早期RE测试的一个重要目的是保护广播通讯不受干扰,在1GHz以下的测量频段,准峰值(QP)检波能较好地模拟人耳对脉冲噪声的响应,所以在定义辐射发射的检波方式时,最早采用的是QP检波。
度量单位
测量天线接收到噪声信号以后,将电磁场转化为感应电流。工程师们把辐射发射的测量参考点放置在测量天线的相位中心点上,测量单位定为电场强度(dB(µV/m))。天线将空间场转化到电路导行波的能力,在RE测试中体现为天线系数。
测量距离和限值
由于测量参考点在测量天线处,所以RE的测量结果与测试距离有关,前辈们定义了不同的测试距离,也就是通常所说的3m法,5m法,10m法和30m法测试。采用什么样的测试距离,与测试设备的尺寸和测量频率有关,最终目的是为了减少EUT与测量天线间的耦合,保证测量满足远场条件。不同的测试距离,因为测试结果不同,所以限值也不一样。
传统ITE设备和手机属于应用于民用环境的B类产品。按照FCC规定,B类产品辐射发射测试距离为3m;按照CISPR22标准,则应该采取10m法测试。由于手机尺寸较小,3m的距离也基本满足远场条件,考虑到测试场地的建造成本,通常都按照3m法测试,只是将CISPR 10m法的限值转换成3m法的限值。由于远场的场强与距离成反比,很容易推导得到两个限值之间的转换关系:
E(10m, dBuv/m)=E(3m, dBuv/m)-10.5(dB)
天线扫描
双线模型里,由于两条波走的路径长度不同,最后到达接收天线处的相位也不同,叠加后幅度有可能增强,也可能减弱。为了抓到EUT辐射发出的噪声最大值,就需要测量天线在一定高度上来回扫描,对于3m的测试距离,天线扫描高度为1~4m。
以上所有规定,共同实现了Radiated Emission测试,即RE测试。
说到这里,让我们稍微停下来喘口气儿。
RE的测量方法从酝酿到定型,是一个缓慢演进的过程。总结上面谈论的早期的RE测试,我们来划下重点:
· 测量场地为OATS或SAC
· 测量仪器为接收机
· 测量参考点在接收天线处,测量结果是电场强度(dB(µV/m))
· 要规定测试距离
· 天线要上下扫描抓最大值
· 测量频段低于1GHz
· QP检波
· 场地性能检验采用NSA法
在实际测量的过程中,许多弊端也渐渐暴露出来。例如:
· 天线需要上下扫描,测试时间长,天线步进精度对测试结果影响较大,对暗室空间要求高,建造成本高
· QP检波,测试时间长
· NSA法检验较为繁琐,结果精度不高
。。。。
这个时候,ITE产品的时钟频率已经越来越高(远远超过108MHz),原先设定的1GHz频率测量上限不够用了。当EMC工程师们把目光投入到1GHz以上频段RE测量时,他们突然发现:这是个重启的好机会。
CISPR经过长期研究,对于1GHz以上的RE测量,提出了完全不同的玩法:
测量场地上,用全电波暗室替代半电波暗室(1GHz频段以上的辐射发射以直射波到达为主)
检波方式上,AV和PK取代QP
场地检验上,电压驻波比法取代NSA
。。。。
所以,当把全频段的RE测试限值放在一起的时候,就会得到下面这张图:
(CISPR限值,30MHz~6GHz RE测试,1GHz以下限值按10m法规定换算到3m法)
这张图很有意思,以1GHz为分界线,左右两边泾渭分明。纸面上看得到的,是限值和检波方式的变化;纸面背后的,是半电波暗室与全电波暗室,是天线上下扫描与固定高度,是测试时间和投入成本的PK……当我第一次看到它时,脑子里想到的是,“废井田,开阡陌”~
在RE测试标准逐渐演进的同时,上世纪90年代,以手机为代表的无线产品也开启了个人通信的新时代。工程师们面临着新的问题:对于无线产品来说,已有的辐射发射测试是否合适?
无线产品工作频率高。以早期出现的GSM为例,工作频段850/900/1800/1900MHz,这些工作频率,或接近或远远高于1GHz——我们上面讲过,RE测试以1GHz为分界,玩法完全不同。无线产品就好像站在街角的十字路口,向左走,还是向右走?
另外,无线产品有收发信机,以发射和接收携带有用信息的电磁波为目的。当电子产品中没有收发信机的时候,噪声辐射是一种无意发射,当有收发信机的时候,发信机会造成额外的噪声,例如谐波、各种互调、交调产物等等,这是有意发射,噪声辐射的一个主要途径是产品自身的天线。
有意发射产生的噪声幅度要远远大于无意发射,那么,原有的RE测试限值要不要变?怎么变?
当EUT这个载体发生变化时, 辐射发射测试该何去何从?
(下)
当无线产品开启个人通信时代之际,EUT这个载体变了,辐射发射测试标准要不要变?怎么变?
回答这个问题的不再是ANSI和CISPR,而是联合国下属机构国际电信联盟无线电通信部门(ITU-R)以及著名的移动通信组织3GPP(第三代合作伙伴计划,3rd Generation Partnership Project)。
不走寻常路的ITU-R
ITU-R另辟蹊径,提出了一种新的辐射发射测试思路,它不再基于RE双线模型,也不再测量到达接收天线处的噪声大小,而是直接测量噪声源的大小。
ITU-R在参考建议文件Rec. ITU-R SM329中,系统地讨论了发信机骚扰发射测量的方法。这是一个射频测量的总体方案,不仅针对产品整体的辐射发射,也针对射频端口的传导发射。
杂散域
SM.329最重要的内容,是引入了杂散发射(Spurious Emission)的概念。它按照距离主频信号中心频点的远近,将整个测量频段划分成三个域(domain):工作域,带外域和杂散域。主频信号中心频点f0,工作带宽(或占用的信道带宽)为B,以f0为基准,+/-2.5B以外的频率范围都是杂散域(Spurious domain)。频率落在杂散域内的无用信号,被称作杂散信号。
(SM.329中对三个域的定义)
替代法测量
SM.329中另外一个非常关键的内容,是提出了用替代法测量辐射发射。简单来说,就是在同一个位置上,用信号源加上发射天线(增益已知)替换EUT,通过调节信号源的输出,使得测量仪器上得到的读数与测量EUT时的读数相同,一个频点接一个频点测量下去,那么每个频点上EUT辐射骚扰的大小,都可以通过信号源的输出功率和天线的增益推算出来。这个思路后来演化成为搭建RSE测试系统时必须要做的路径损耗(Tranducer)校准。
(ITU-R SM.329-10,替代法测量辐射杂散)
让人抓狂的SM.329
SM.329中有不少模棱两可的地方,比如讨论杂散信号的测量单位时,指出测试结果可以使用:
· 场强,度量单位µV/m或dB(µV/m)或A/m或dB(µA/m)
· 功率(e.r.p或e.i.r.p),度量单位W或mW或dBW或dBmW
· 功率谱密度pdf,度量单位W/m2或dB(W/m2)
(有点晕,到底用哪个~)
关于测试场地,SM.329说,30MHz~1GHz频段内,还是要用OATS和半电波暗室滴,至于其它的测试场地,像全电波暗室、混响室、TEM这些能不能用来测辐射杂散,以后再讨论……
(当年看到这儿,我内心是崩溃的:1GHz以下用半电波暗室??那天线要不要上下扫描?公司现在测RSE用的就是全电波暗室,你告诉我说能不能用还待定~ T_T)
最早读SM.329的时候,我经常会冒出冲动想抓着写这标准的大牛问个清楚。后来才慢慢有点明白,SM.329是参考建议文件,它负责提出各种可能,具体细节还需要产品类的标准去落实。
这个任务落在了3GPP身上。
劳模3GPP
按照ITU-R规划的道路,以勤奋著称的3GPP开始埋头苦干,在针对不同移动通信制式分别制定的测试标准中,进一步规定了两种类型的杂散发射测试:
· 将位于射频链路与EUT天线之间的天线接头作为测试参考点,测量从射频发射链路输出的杂散信号幅度。即传导杂散测试
· 将EUT看做一个黑盒(enclosure),测量天线接收整个黑盒对外的杂散发射,而不区分哪些是从手机天线辐射出的噪声,哪些是从其它部分辐射出的噪声。即辐射杂散测试(Radiated Spurious Emission,RSE)
3GPP根据ITU-R SM.329里对杂散域的定义,详细规定了对不同移动通信制式做RSE测试时的RBW设置;给定了不同测量频段上的限值;将测量结果确定为功率值,单位dBm;将测试场地确定为全电波暗室;和通常的射频功率测试一样,测量仪器为频谱仪,基本采用PK检波。
全电波暗室
前面已经提到过全电波暗室(Fully Anechoic Room,FAR),FAR是在半电波暗室的地面上加铺一层吸波材料,消除掉地面反射,形成一个没有任何反射的电磁波传播环境。FAR模拟自由空间,由于没有地面反射路径的存在,到达接收天线处的只有直射波。接收天线不再需要上下扫描寻找噪声最大值。
(紧凑型全电波暗室,在空间需求和建造成本上都有很大优势)
RSE的测量参考点在EUT的相位中心上——而RE的测量参考点在接收天线的相位中心。这个区别决定了在满足远场条件下,RSE测量结果实际上与测试距离无关。我们可以在任意距离(满足远场条件)下,利用替代法测量RSE。
到这里,我们可以停下来对RSE测试再划个重点:
· 测量场地为FAR
· 测量仪器为频谱仪
· 测量参考点在EUT处,测量结果是功率值(dBm)
· 用替代法测量时不需要规定测试距离(需要满足远场条件)
· 测量天线无需上下扫描
· 大部分情况下采用PK检波
· 场地检验采用SVSWR法
谁的地盘
从RSE的定义可以看出,RSE测量的不仅仅是发信机搞出来的噪声,它覆盖的是整个杂散域,既包含有意发射,也包含EUT中与发信机无关的其它电路的无意发射。
3GPP标准颁布以后,RSE测试成为衡量无线产品EMI性能的重要测试。与此同时,不难发现,RE和RSE测试的考察范围存在着重叠……
(RE测试:你,你抢我地盘~
RSE测试:怪我咯~)
那么该如何给无线产品的RE测试寻找合适的定位呢?
欧盟无线产品标准EN301489系列中,将RE测试明确定义为测量EUT的无意发射,当测到的骚扰噪声来自发信机时,即使超标也会被忽略不计。同时,传统ITE时代RE测试关注线缆等附件的做法也被继承下来,在无线产品的RE测试中,EUT需要带上充电器、耳机等附件,重点考察整体的辐射发射性能——测试甚至可以在EUT不建立通信链接的情况下进行。
回到上期文章开头的那两张图。
测量单位和限值暴露了这两张图的身份——第一张是RSE测试,第二张是RE测试。亲您答对了吗?
不光测试结果看起来相似,实际操作中,RE测试和RSE测试的测试布置往往在外表上看来也傻傻分不清楚:
· 在有些公司的研发测试中,为了加快测试,降低成本,1GHz以下的RE测试也在全电波暗室中进行,仅将测量结果换算到半电波暗室;
· 搭建RSE测试系统的时候,通常采用替代法校准得到固定测试距离下的路径损耗(Tranducer),在这之后,RSE测试就不用再费劲地用替代法一个频点一个频点地测量,而是在保持固定测试距离(例如3m)的情况下扫频进行
。。。。
结果就是,我们表面上看到的RE和RSE测试,越长越像……
(猜一猜,这是RE测试?还是RSE测试?答案在文末)
结语
我们用了两期的篇幅来分别讲述无线产品的RE测试和RSE测试,如果把它们的细节放在一起,不难发现,RSE在测试时间、暗室空间和建造成本以及考察的全面性上,要优于RE测试——以至于ETS和R&S后来都推出了用于RSE预测试的小型屏蔽箱。
疑问自然而生:为什么针对无线产品还需要两个测试项?为什么不在RSE测试中,也将EUT带上附件,然后取消RE测试呢?
这也是我一直以来的疑惑。
在这里,说说我的看法,希望可以抛砖引玉:
· 从技术的角度来说:
如果仅仅基于理论推导的话,1GHz以下RE测试的限值要比RSE更低,也就是说,在衡量1GHz以下频段无意发射的时候,RE测试是更严格的
· 从实际操作的角度来说:
RE测试和RSE测试是由不同标准组织制定的、来源完全不同的两个测试。举个栗子,在国内做认证的时候,RE测试隶属3C,RSE测试属于型号核准,取消一个?呃,当我没说过……
一代人走,一代人来,太阳落下,太阳照常升起。
测试标准的演进是一个缓慢而又不可阻挡的过程,CISPR32取代CISPR22,RED指令取代R&TTE指令……上学时印在课本上的那些老朋友们都慢慢成为了历史。
载体变了,标准怎么可能不变。
5G商用化在即,全球规划的工作频段从20几GHz到80GHz;Tesla电动车autopilot主动雷达系统工作频率77GHz;802.11ad启动60GHz频段……仿佛一夜之间,毫米波频段的众多应用就颠覆了我们对于高频的固有认识。面对如此高的频率,该如何开展电磁兼容研究和测试?现有的电磁兼容场地、设备和测试方法都显得捉襟见肘。就和当初曾经站在1GHz这个临界点前一样,我们又一次站在了频率的奇点前。
新的技术酝酿着一场新的变革,电磁兼容测试标准也不例外。
未来已来,让我们拭目以待。
(揭晓答案:上面那张图里,虽然是全电波暗室、EUT带附件测试,但却真的不是1GHz以上的RE测试。
“为什么不在RSE测试中也带上附件?”——我要说,在已经消失的手机品牌中,有一家业界良心,它的内部测试早就是这么干的啊~)