服务
射频自干扰（RFI/De-sense）测试系统
射频自干扰在无线产品上的表现就是接收机性能的下降，而造成这种下降的原因通常由以下两种构成：
- 产品内部的其他功能模块（照相机，显示屏，扬声器，SIM/SD卡等等）工作时对接收机的带内干扰
- 产品内部其他无线发射器对某个接收机的干扰
RFI/IOP测试
- 针对2G/3G/4G/BT/WLAN/GPS的RF接收灵敏度下降进行全信道快速自动化测试
- 针对OTA TIS测试Fail问题进行特定信道的快速自动化测试，协助故障定位
近场扫描测试
- 针对显示屏模块产生的EMI问题，进行近场扫描，协助评估模块性能
- 对PCB、FPC进行近场扫描，定位噪声源，协助故障定位和走线优化
